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수분측정기를 이용한 Expanded Wafer 수분분석

후추 품질관리

expanded wafer-2.png 식품 팽창은 온도와 압력 차이로 인해 제품 구조에 포함된 가스가 방출되는 물리적 과정입니다. 팽창된 제품은 구조가 "부풀어 오르는" 동안 부피가 증가합니다. 예를 들어 웨이퍼의 부서지기 쉬운 정도를 높여 물리화학적 특성을 유지합니다.

이러한 제품의 감각적 품질(맛)은 최종 수분 함량에 따라 엄격하게 달라집니다. 제품 구조에 물이 과잉되면 가수분해 변화가 시작되어 제품의 품질과 감각적 품질(예: 풍미, 향, 경도 등)이 크게 떨어지기 때문에 바람직하지 않습니다.

이러한 이유로 제조 시 생산의 모든 단계에서 수분 함량 검사가 필수적입니다.반면에 정확하게 측정되고 제한된 양의 물은 제품의 긴 수명을 연장하며 이는 모든 제조업체의 소비자 보호 조치 중 하나입니다. 테스트에 사용되는 수분 또는 건물 함량을 측정하는 방법은 Radwag의 MA/R 및 MA/X2 수분 분석기이 적합하며 정확성과 매우 정밀한 측정을 보장해야 합니다.
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Expanded Wafer – 측정장비 및 측정원리 expanded wafer-3.png

Radwag 사의 다양한 수분측정기(할로겐 수분측정기, 적외선 수분측정기,메탈히터 수분측정기, 마이크로파 수분측정기) 중에서 적외선 수분측정기 MA/R 및 MA/X2 수분 측정기(Moisture Analyzer) 시리즈를 사용하여 Expanded Wafer 건조 방법을 검증(Validation) 하기 위한 기본 정보가 포함되어 있습니다. 해당 제품의 독특한 특징을 특별히 고려하여 자체 건조 방법을 확립하는 기초가 될 수 있습니다.

Expanded Wafer – 수분 함량 측정

적외선을 이용한 측정 방법을 사용하여 Expanded Wafer의 수분함량을 측정하였습니다.

​ ​ 수분 측정 관련 용어

수분/건조물 함량 측정(Moisture Content Measurement)의 정확도(Accuracy)는 수분 측정기 방식에서 얻은 수분/건조물 함량 결과와 동일한 시료를 기준 방법(Dry Oven)을 통해 건조하여 얻은 수분/건조물 함량 결과의 차이입니다.

정밀도는 특정 조건에서 얻은 독립적인 테스트 결과 간의 준수 정도입니다. 정밀도의 측정값은 여러 측정값의 표준편차입니다.

Dry Oven을 이용한 수분함량 분석-Reference Method

dry oven (3).png Refefence Method 파라미터는 가이드라인으로써 일반적으로 표준 문서에 기록됩니다. 만약에 표준 문서가 없는 경우에는 샘플의 색상이 변하지 않는 건조 온도를 사용합니다. 이러한 접근 방식은 이전에 탈수된 제품(Dehydrated Products)과 원료 제품에 적용됩니다.

​ 샘플 준비

테스트하기 전에 샘플을 밀봉된 포장에 보관해야 합니다. 웨이퍼를 기계적으로 작은 조각이나 분말로 조각냅니다. ​


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​ 액세서리

실험실 건조기(Dry Oven), 뚜껑이 있는 유리 계량 용기, AS 220.X2 분석 저울, 실험실 스푼

​ 방법 설명

사전 건조된 유리 계량 용기에 ca. 5g.의 질량의 샘플을 올려놓습니다. 계량 정확도가 0.1mg인 저울(AS 220.X2)을 사용하여 해당 샘플의 실제 질량을 칭량합니다. 온도 조절이 가능한 실험실 건조기(dry oven)에 샘플과 뚜껑이 있는 계량 용기를 넣습니다. 샘플을 105도에서 3시간 동안 건조합니다. 그런 다음에 용기를 제거하고 냉각될 때까지 데시케이터에 넣은 후 무게를 측정합니다. 샘플을 다시 실험실 건조기에 넣고 30분 동안 계속 건조합니다. 식힌 후 다시 무게를 잽니다. 안정적인 샘플 질량을 얻을 때까지 절차를 반복하거나 건조 후 샘플 질량 증가를 기록합니다.

Dry Oven 테스트 결과

expanded-wafers_dryoven result.jpg



적외선 수분 측정기를 이용한 수분 함량 분석

MA_X2_1.jpg IR emitter 수분분석기(IR emitter Moisture Analyzer)를 이용한 수분 함량 테스트에는 대류(Convection)와 방사선(Radiation)이라는 두 가지 현상이 수반됩니다. 시료의 온도는 시료의 바깥층에서 바닥으로 갈수록 상승합니다. 건조된 시료의 두께와 건조 온도의 최적화를 통해 시료 구조에서 온도 구배(차이)를 최소화합니다. 건조 온도가 너무 높으면 샘플 표면이 탈 수 있습니다.

​ 샘플 준비

테스트하기 전에 샘플을 밀봉된 포장에 보관해야 합니다. 웨이퍼를 기계적으로 작은 조각이나 분말로 조각냅니다. ​

​ 액세서리

MA/R 또는 MA/X2 수분 분석기, 실험실 스푼, 일회용 알루미늄 계량 팬. ​

​ 방법 설명

아래 테이블에서 제시간 건조 파라미터를 설정합니다. ca. 3g 질량의 샘플을 계량 팬 전체에 얇게 펴 바릅니다. 건조실을 수동 또는 자동으로 잠급니다. ​ ​

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건조 테스트 파라미터

expanded-wafers_파라메터.jpg



테스트 결과

​ 적외선 수분측정기의 테스트 결과 정확도는 아래표와 같습니다. ​ ​ ​

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Accuracy = Water content(%)- Ref. / Water content(%)- MA R/X2

테스트 정확도

expanded-wafers_result.jpg

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